La diferencia fundamental entre el espectro correspondiente a un metal y el proveniente de un semiconductor será la existencia o no de emisión al nivel de Fermi (0 de energías correspondientes al estado inicial), sin embargo en determinados sistemas puede observarse en estos últimos algún tipo de emisión debido, por ejemplo a bandas de estados de superficie que atraviesan EF. La emisión entre EF y unos cuantos eV refleja la densidad de estados (DOS de superficie o de volumen) del material, mientras que a medida que aumenta la energía respecto EF se observa un aumento de intensidad debida a la emisión secundaria, esto es a electrones que han sufrido distintos tipos de pérdida. La aparición de electrones secundarios que se producen en el propio espectrómetro (y que se superpone a la señal) se solventa polarizando la muestra negativamente respecto del espectrómetro. De este modo toda la señal de la muestra se desplaza en bloque mientras que la del espectrómetro no lo hace, separando las dos contribuciones. |
